Microscópio eletrônico de varredura com canhão de efeito de campo - FEG - Inspect 50, com detectores elétrons secundários, retroespalhados, espectrômetro EDS de raios-X e câmara EDAX de difração de elétrons retroespalhados EBSD - TEAM.




Carvão vegetal - Cesar Yuji Narita- Engenharia Metalúrgica e de Materiais - Poli - USP

Microscópio de Força Atômica Shimadzu SPM 9500, acoplado a nanoindentador e nanoesclerômetro Hysitron Triboscope.







Revestimento PVD-TiN - Abel André Cândido Recco



Microscópio eletrônico de varredura Philips XL - 30, com detectores elétrons secundários, retroespalhados, espectrômetro EDS de raios-X e câmara TSL-EDAX de difração de elétrons retroespalhados EBSD.


 


Revestimento resistente ao desgaste e corrosão de Ni-P
Clarice Kunioshi - CTMSP - Centro Tecnológico da Marinha em São Paulo.



                          

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